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一种半导体器件的氮化物电介质结构

发布时间:2026-11-12 15:40      浏览次数:次

申请号:CN201820793672.6

本专利所属技术领域(IPC):B81C1/00,G02B1/00

国民经济行业分类:光学仪器制造 , 其他专用设备制造

战新分类:新型电子元器件及设备制造 , 智能、仿生与超材料制造

第一发明人:高娜

所属学院:厦门大学物理科学与技术学院

联系方式:综合部:0792-8370097 沈老师17507028868

技术成熟度:样品、实验阶段

意向转化方式:面议

意向转化金额(万元):面议

成果介绍:

本实用新型公开了一种半导体器件的氮化物电介质结构,包括:衬底;AlN 缓冲层,设置于衬底之上;超晶格层,覆盖于缓冲层之上;所述超晶格层由 AlN 层和 GaN 层周期性交替层叠形成;所述超晶格层上刻蚀形成若干孔洞,所述孔洞的形状为倒六棱台或倒六棱锥。本实用新型实现大面积、亚波长量级的小尺寸光子晶体的六棱锥、六棱台结构,形状更为复杂,以更加精确地调控光子的运动。